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日本日置阻抗分析儀IM3570產(chǎn)品詳細信息 日本日置阻抗分析儀IM3570概述
1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查
阻抗分析儀IM3570測量方式：壓電元件的共振特性的測量
LCR測試儀和阻抗分析儀合二為一的IM3570通過掃頻測量和峰值比較器功能對共振狀態(tài)進行合格判定，并在LCR模式想能通過1kHz或120Hz的LCR測量進行檢查。掃頻測量和LCR測量一臺儀器全部實現(xiàn)。
僅需輸入數(shù)值即可輕松計算精度。
阻抗分析儀精度計算軟件請點擊
日本日置阻抗分析儀IM3570特點
★ 1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查 ★ LCR模式下樶快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量 ★ 基本精度±0.08%的高精度測量 ★ 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量 ★ 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量 ★ 可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400
日本日置阻抗分析儀IM3570選型指南
蘇公網(wǎng)安備 32050502000404號
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